da Fonseca Filho, Henrique Duarte, Unifap, Brasil
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v. 2, n. 2 (2012) - Artigos de revisão de literatura
Estudos de superfícies em escala nanométrica com o Microscópio de Força Atômica
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v. 3, n. 1 (2013) - Artigos de revisão de literatura
Avanços em caracterização de amostras sólidas cristalinas através de difratometria de raios-X
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v. 3, n. 2 (2013) - Artigos de revisão de literatura
O Microscópio de Força Atômica (AFM): importante ferramenta no estudo da morfologia de superfícies na escala nanométrica
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