Estudos de superfícies em escala nanométrica com o Microscópio de Força Atômica

Henrique Duarte da Fonseca Filho, Gerson Anderson de Carvalho Lopes, Robert Ronald Maguina Zamora

Resumo


O Microscópio de Força Atômica (AFM, atomic force microscopy) é uma poderosa ferramenta de investigação de superfícies em escala nanométrica. Com este equipamento é possível visualizar átomos individuais, nas imagens de maior resolução. Através das imagens geradas com o AFM pode-se extrair dados sobre as propriedades das superfícies analisadas, sendo este o motivo deste equipamento ter se tornado uma das mais ferramentas da ciência dos materiais nas últimas décadas. Neste artigo são mostrados alguns avanços no estudo de superfícies dos materiais com o AFM, enfatizando um de seus modos de operação.

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