O Microscópio de Força Atômica (AFM): importante ferramenta no estudo da morfologia de superfícies na escala nanométrica

Erveton Pinheiro Pinto, Glenda Quaresma Ramos, Henrique Duarte da Fonseca Filho

Resumo


O surgimento do Microscópio de Força Atômica (AFM) promoveu um grande impacto na Ciência, de uma forma geral, devido a sua capacidade de gerar imagens com resolução atômica, proporcionando o estudo da morfologia de superfícies, condutoras ou não, em escala nanométrica. Além disso, o AFM não exige uma preparação prévia das amostras a serem estudadas, possuindo apenas uma limitação no tamanho das mesmas devido ao porta-amostras. Um breve histórico, desde o surgimento deste microscópio até os dias atuais, e uma abordagem mais aprofundada sobre o seu funcionamento serão apresentados, explicitando, dessa forma, a importância deste poderoso equipamento para a Ciência e Engenharia dos Materiais


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