Avanços em caracterização de amostras sólidas cristalinas através de Difratometria de Raios-X

Henrique Duarte da Fonseca Filho, Gerson Anderson de Carvalho Lopes

Resumo


Neste artigo realiza-se uma revisão sobre os fundamentos da técnica de difratometria de raios X, bem como sua utilização nas empresas, universidades, indústrias e centros de pesquisa, como sendo uma das mais difundidas e importantes técnicas de caracterização utilizadas atualmente. Buscou-se fornecer um entendimento simples, porém completo, do princípio da técnica, e suas aplicações, o mecanismo de geração dos raios-X, sua interação com os cristais, a instrumentação do método, a geração dos difratogramas e sua análise bem como uma exploração das caracterizações possíveis com a técnica de DRX. Por fim, dedica-se uma seção para uma técnica relacionada, a espectrometria de fluorescência de raios-X

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